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半導體器件晶閘管全動態(tài)測試

一.功能簡介全動態(tài)測試的基本原理是在一個工頻半周內(nèi)對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內(nèi)施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了元件在整流電路中的工作情況。全動態(tài)測試法是對元件的通態(tài)電流能力、阻斷電壓能力的一種綜合測試，

2025-11-14 100000/臺

SCR晶閘管全動態(tài)測試系統(tǒng)

一.功能簡介全動態(tài)測試的基本原理是在一個工頻半周內(nèi)對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內(nèi)施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了元件在整流電路中的工作情況。全動態(tài)測試法是對元件的通態(tài)電流能力、阻斷電壓能力的一種綜合測試，

2025-11-13 100000/臺

晶閘管高溫阻斷試驗臺

一、測試設(shè)備功能和技術(shù)指標1.主要適用功能：本測試設(shè)備可對晶閘管、整流管的電耐久性進行試驗，測試設(shè)備主要技術(shù)條件符合JB/T-7626-2013等相關(guān)標準。保證設(shè)備的安全性和使用耐久性。2．控制方式：采用手動調(diào)壓試驗。對試驗電參數(shù)（試驗時間、電壓、漏電流，）進行顯示。10個工位為一組控制

2025-11-12 100000/臺

可控硅靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

一、產(chǎn)品簡介該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗測試中不可缺少的專用測試設(shè)備。該套測試設(shè)備主要有以下幾個單元組成：1)門極觸發(fā)參數(shù)測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數(shù)測試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測試單元5)電壓上升率參數(shù)測試單元6)擎住電流7)門極電阻8)計算機

2025-11-10 100000/元

高集成化電力半導體全動態(tài)測

一.功能簡介全動態(tài)測試的基本原理是在一個工頻半周內(nèi)對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內(nèi)施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了元件在整流電路中的工作情況。全動態(tài)測試法是對元件的通態(tài)電流能力、阻斷電壓能力的一種綜合測試，已被國

2025-11-07 50000/臺

浪涌電流測試儀 電力電子行

一、產(chǎn)品簡介該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗測試中不可缺少的專用測試設(shè)備。該套測試設(shè)備主要有以下幾個單元組成：1)門極觸發(fā)參數(shù)測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數(shù)測試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測試單元5)電壓上升率參數(shù)測試單元6)擎住電流7)門極電阻8)計算機

2025-11-07 /臺

晶閘管高溫反偏測試儀

一、產(chǎn)品簡介該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗測試中的測試設(shè)備。該套測試設(shè)備主要有以下幾個單元組成：1)門極觸發(fā)參數(shù)測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數(shù)測試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測試單元5)電壓上升率參數(shù)測試單元6)擎住電流7)門極電阻8)計算機控制系統(tǒng)9)合格證標簽打印1

2025-11-06 100000/臺

整流橋 晶閘管模塊可靠性測

一、測試設(shè)備功能和技術(shù)指標1.主要適用功能：本測試設(shè)備可對晶閘管、整流管的電耐久性進行試驗，測試設(shè)備主要技術(shù)條件符合JB/T-7626-2013等相關(guān)標準。***設(shè)備的安全性和使用耐久性。2．控制方式：采用手動調(diào)壓試驗。對試驗電參數(shù)（試驗時間、電壓、漏電流，）進行顯示。10個工位為一組控制，

2025-11-06 100000/臺

功率器件雪崩能量測試儀

雪崩能量測試臺，是專門設(shè)計測試IGBT、二極管、MOS管測試設(shè)備，對于那些在應(yīng)用過程中功率器件兩端產(chǎn)生較大電壓的尖峰應(yīng)用，就要考慮器件的雪崩能量，電壓的尖峰所集中的能量主要由電感和電流所決定，因此對于反激的應(yīng)用，電路關(guān)斷時會產(chǎn)生較大的電壓尖峰。通常的情況下，功率器件都會降額，

2025-11-05 100000/臺

IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 地鐵

IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)一.功能簡介IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的基本原理是在一個工頻半周內(nèi)對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內(nèi)施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了元件在整流電路中的工作情況。IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

2025-11-05 100000/臺