桌面式多功能掃描電鏡

CEM3000系列桌面式多功能掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。其抗振設(shè)計(jì)，在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

CEM3000系列桌面式多功能掃描電鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。此外，該系列電鏡也可通過(guò)加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

 

核心優(yōu)勢(shì)

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺(tái)式設(shè)計(jì)，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室），節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。

（2）支持快速移機(jī)，一臺(tái)設(shè)備滿足多場(chǎng)景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級(jí)分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達(dá)200,000倍放大，精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號(hào)，滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁，穩(wěn)定無(wú)懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計(jì)（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車間、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式快1.5分鐘，大幅縮短等待時(shí)間。

（2）自動(dòng)對(duì)焦、消像散、圖像增強(qiáng)功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測(cè)。

（2）支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級(jí)別景深，具有高空間分辨率。

4.多探測(cè)器可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。

5.抗振性能優(yōu)異。

 

應(yīng)用領(lǐng)域

CEM3000系列桌面式多功能掃描電鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌�類型的樣品進(jìn)行觀測(cè)，具有高空間分辨率。

應(yīng)用范例：

應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)、涂層性能評(píng)估。

生物：微流控芯片表面形貌觀測(cè)、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。

 

部分技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)		CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）
電子槍	燈絲	鎢燈絲
	分辨率	優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)  @20kV
	加速電壓	1 ~ 20kV
放大倍數(shù)		電子圖：40 ~ 200,000×（可選配大圖拼接）
探測(cè)器	二次電子	標(biāo)配
	背散射電子	標(biāo)配（四象限高分辨探頭）
	能譜儀	選配
自動(dòng)化軟件		標(biāo)配：自動(dòng)合軸、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、一鍵圖像增強(qiáng)
		選配：顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量、纖維測(cè)量、三維粗糙度重建
真空系統(tǒng)	真空度	高真空：優(yōu)于9×10-3Pa 低真空：5 ~ 100 Pa（選配）
	抽真空時(shí)間	低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min
樣品臺(tái)	自動(dòng)軸	X，Y，T
	手動(dòng)軸	R，Z
	行程范圍	X: 50mm
		Y: 50mm
		R: 0°~360°（手動(dòng)旋轉(zhuǎn)、電子束旋轉(zhuǎn)）
		T: -22.5°~ 22.5°
		Z: 45mm
	樣品尺寸	70mm×70mm（水平） 45mm（高度）
倉(cāng)內(nèi)相機(jī)	導(dǎo)航相機(jī)	標(biāo)配高分辨彩色相機(jī)
	側(cè)視相機(jī)	標(biāo)配高分辨紅外相機(jī)
操作系統(tǒng) 圖片尺寸		Windows10 (64bit)
		640×480
		1280×960
		2560×1920
		5120×3840
		10240×7680

懇請(qǐng)注意：因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請(qǐng)諒解。

 

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