國產(chǎn)電鏡掃描儀器品牌

CEM3000系列電鏡掃描儀器空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非�？旖莸剡M行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000系列上還運用了快速抽放氣設(shè)計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統(tǒng)，以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度，滿足不同樣品的觀測需求。

 

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

 

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率。

4.多探測器可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

5.抗振性能優(yōu)異。

 

CEM3000系列電鏡掃描儀器在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。此外，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

 

應(yīng)用領(lǐng)域

CEM3000系列電鏡掃描儀器外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設(shè)計，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌�類型的樣品進行觀測，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

應(yīng)用范例：

 

雙機型搭配

CEM3000系列臺式掃描電鏡，設(shè)有CEM3000A（大樣品倉）、CEM3000B（抗振型）兩款子機型，分別在樣品倉容量、抗振性方面進行了強化加深和技術(shù)拉通，兩者具有高通用性，但又各有千秋。

為客戶提供更適合的產(chǎn)品方案，讓用戶在進行分析時更加得心應(yīng)手。

 

部分技術(shù)指標(biāo)

型號		CEM3000A（大樣品倉型）
電子槍	燈絲	鎢燈絲
	分辨率	優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)  @20kV
	加速電壓	1 ~ 20kV
放大倍數(shù)		電子圖：40 ~ 200,000×（可選配大圖拼接）
探測器	二次電子	標(biāo)配
	背散射電子	標(biāo)配（四象限高分辨探頭）
	能譜儀	選配
自動化軟件		標(biāo)配：自動合軸、自動聚焦、自動消像散、一鍵圖像增強
		選配：顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量、纖維測量、三維粗糙度重建
真空系統(tǒng)	真空度	高真空：優(yōu)于9×10-3Pa 低真空：5 ~ 100 Pa（選配）
	抽真空時間	低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min
樣品臺	自動軸	X，Y，T
	手動軸	R，Z
	行程范圍	X: 50mm
		Y: 50mm
		R: 0°~360°（手動旋轉(zhuǎn)、電子束旋轉(zhuǎn)）
		T: -22.5°~ 22.5°
		Z: 45mm
	樣品尺寸	70mm×70mm（水平） 45mm（高度）
倉內(nèi)相機	導(dǎo)航相機	標(biāo)配高分辨彩色相機
	側(cè)視相機	標(biāo)配高分辨紅外相機
操作系統(tǒng) 圖片尺寸		Windows10 (64bit)
		640×480
		1280×960
		2560×1920
		5120×3840
		10240×7680

懇請注意：因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要，本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。

 

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。