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X射線測厚儀

城市: 廣東

共1條篩選結(jié)果

  • <em>X</em>射線熒光鍍層厚度測量儀

    電議 元 /套

    X射線熒光鍍層厚度測量儀

    概要：是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。可以測定結(jié)構(gòu)部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對照采用激光射線的Z軸方向的焦點，可以發(fā)揮測定值的再現(xiàn)性。而且物美價廉。特長：1.操作非常簡單。2.運用

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