上海益朗儀器有限公司
已認(rèn)證
Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.
主營：涂鍍層測厚儀,水質(zhì)離子測試包,離子污染測試儀,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,表面張力滴重計(jì),哈氏槽,溫濕度記錄儀,輻射測量儀
產(chǎn)品描述
Au/Al 臺式光譜儀用鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
高純度的單元素金膜，沉積在鋁基底上。基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片比箔標(biāo)準(zhǔn)片更堅(jiān)固且通常成本更低，但通常適用于一個(gè)或一種鍍層厚度應(yīng)用。XRF使用基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片來校準(zhǔn)具有與標(biāo)準(zhǔn)片相同或相似基底的樣品上的單層厚度測試應(yīng)用。如果標(biāo)準(zhǔn)片的基底與測試樣品的基底不同，請?jiān)谫徺I前標(biāo)準(zhǔn)片之前聯(lián)系您的XRF供應(yīng)商：上海益朗儀器有限公司。基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片通常安裝在與箔標(biāo)準(zhǔn)片相同的框架中，暴露出標(biāo)準(zhǔn)片的有限區(qū)域用于測量。
鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片選購指南：
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Au/Al (Gold/Aluminium) Single Layer Coating on Substrates XRF Coating Thickness Standards |
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貨號 |
標(biāo)稱值 |
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SAU10AL999 |
10μin（0.25μm） |
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SAU20AL999 |
20μin（0.5μm） |
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SAU80AL999 |
80μin（2μm） |
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SAU200AL999 |
200μin（5.0μm） |
以上為常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。
注意：
1.對于小于等于1微米（40μin）的厚度，交貨標(biāo)準(zhǔn)的允許厚度偏差為±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），則所交付標(biāo)準(zhǔn)的允許層厚度偏差為±15％。
3.均勻度：5％。
4.認(rèn)證厚度不確定度（95％置信區(qū)間）±5％。
定義：
均勻度的定義是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示為百分比，其中可以在標(biāo)準(zhǔn)暴露表面的任何位置確定厚度。
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