產品描述
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使樣品與ATR晶體的反射面嚴密接觸，提高接觸效率，是獲得高質量ATR譜圖。
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ZnSe晶體適用PH范圍：5-9
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原理：ATR附件基于光內反射原理而設計。從光源發(fā)出的紅外光經過折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上，當入射角大于臨界角時，入射光線就會產生全反射。事實上紅外光并不是全部被反射回來，而是穿透到試樣表面內一定后再返回表面。在該過程中，試樣在入射光頻率區(qū)域內有選擇吸收，反射光強度發(fā)生減弱，產生與透射吸收相類似的譜圖，從而獲得樣品表層化學成份的結構信息。
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適用范圍：常規(guī)的透射光譜可用壓片或液體池法進行測量，但是對于某些特殊樣品，難熔、難溶及難粉碎的試樣（如塑料聚合物、橡膠等），透射光譜存在制樣困難的問題。衰減全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）紅外附件可以的解決這些問題。它具有制樣簡單、無破壞性、檢測靈敏度高、對樣品大小及含水量無特殊要求、測量區(qū)域小等特點。
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ATR法操作步驟如下：1）將樣品直接放置于ATR附件的晶體和頂針之間，較平整的一面貼上ATR晶體上。2）擰緊手扭，即可進行樣品測試。再經過傅立葉紅外變換紅外光譜儀測試，從而獲得樣品的光譜圖，再根據紅外圖譜的特征峰進行定性分析。
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注：ATR附件也可用來測試常規(guī)液體和固體粉末樣品。
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測試完成后，一定要用無水乙醇將ATR的壓頭及其他附件等都要擦拭干凈，并保持樣品倉清潔干凈。
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