便攜式金屬成分分析儀

光譜儀技術配置

1． 探測器 -- SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可） --典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS). --輸入計數(shù)率：100KCPS，遠大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右) --峰背比：>20000 --鈹窗厚度：8um Dura Be（一般的探測器在25um,對輕元素有更好的透過率，獨特的Dura技術  Be窗可以耐酸，堿的腐蝕） --處理器：數(shù)字電路，放大倍數(shù)，時間常數(shù)可任意設置。 --高壽命，借助于其獨特的Dura Be技術，探測器在幾年的時間內探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔心后期的維護費用 2. X射線管 --高壓：0-50Kv連續(xù)可調 --電流：0-1000uA連續(xù)可調（0-2500uA可選，大電流對Na-K有更好的激發(fā)效果） --功率：50W --穩(wěn)定性：8小時0.2% --高壽命，正確操作的情況下壽命可以達到50000小時 3. 高壓發(fā)生器 --輸入電壓：24VDC --輸入電流：4A --輸出電壓：50Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管) --功率：50W --穩(wěn)定性：8小時0.05% 4.精密結構設計 --垂直倒角設計，精密的控制保證優(yōu)異的重復性，上照式設計可以完全避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護 5.冷卻散熱系統(tǒng) --良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25度，儀器結果不會有影響。 6.自動進樣系統(tǒng) --8樣品自動進樣 二、           光譜分析系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) --12位模/數(shù)轉換器 --17英寸顯示器 -- PentiumE5200計算機 --250G以上硬盤驅動 --多功能標準鍵盤 --打印機 三、         分析軟件

--元素測量范圍：Na-U --可對RoHS指令中的五種有害元素進行精準測試 --可以測量鍍層厚度 --標準曲線法，理論系數(shù)法，基本參數(shù)法，多元比例法使您輕松應對各種樣品的分析 --開放式軟件設計，您可以自己開發(fā)新的工作曲線

--內置式參數(shù)設計，您在自己制作工作曲線時，各種干擾自動扣除。 四、尺寸規(guī)格 --長900mm寬550mm高680mm 五、           重量 重量約100kg 六、電源要求 --220V±10% 50Hz 七、工作環(huán)境 --溫度范圍：5—30℃。 --相對濕度小于等于80%    

高爐渣驗收標準
元素	水平范圍	重復性r
SiO2	5～40	lgr=1.2028lgm-2.5858
Al2O3	0.1～25	lgr=0.1931 lgm-1.1013
TFe	0.1～30	lgr=0.4353lgm-1.4478
CaO	20～70	lgr =0.7510 lgm -1.8098
MgO	0.1～20	lgr =0.4380 lgm -1.4023
MnO	0.01～10	lgr =0.5388 lgm -1.5048
S	0.01～3	lgr =0.5485 lgm -1.5077
TiO2	0.01～2	lgr =0.2912 lgm -1.7590
注：m是分析元素的含量用質量百分數(shù)計，以%表示

不銹鋼及合金鋼驗收標準
元素	水平范圍	重復性
Si	0.10～2.30	r=0.0037+0.0047m
Mn	0.14～2.80	r=0.0056+0.0040m
P	0.004～0.070	r=0.0011+0.022m
S	0.007～0.060	r=0.00040+0.057m
Cr	0.14～17.50	r=-0.00015+0.0037m
Ni	0.08～28.50	r=0.0095+0.0018m
Cu	0.06～3.06	r=0.0052+0.0041m
Mo	0.08～2.00	r=0.0013+0.0038m
V	0.05～0.65	r=0.0022+0.0072m
Ti	0.03～0.80	r=0.0030+0.0040m
Co	0.03～0.30	r=0.0039+0.016m
Nb	0.02～1.20	r=0.0021+0.0038m
Al	0.01～1.10	r=0.0029+0.0092m
W	0.08～5.40	r=0.0039+0.0061m
Zr	0.01～0.20	r=0.0012+0.0032m
注：m是分析元素的含量用質量百分數(shù)計，以%表示